邊界掃描測試發展于上個世紀90年代，隨著大規模集成電路的出現，印制電路板制造工藝向小，微，薄發展，傳統的ICT 測試已經沒有辦法滿足這類產品的測試要求。由于芯片的引腳多，元器件體積小，板的密度特別大，根本沒有辦法進行下探針測試。一種新的測試技術產生了，聯合測試行為組織（Joint Test Action Group）簡稱JTAG 定義這種新的測試方法即邊界掃描測試。

被國際電工委員會收錄為IEEE1149.1-1990 邊界掃描測試測試訪問端口和邊界掃描結構標準。該標準規定了進行邊界掃描測試所需要的硬件和軟件。自從1990 年批準后，IEEE 分別于1993 年和1995 年對該標準作了補充，形成了現在使用的IEEE1149.1a-1993 和IEEE1149.1b-1994。JTAG 主要應用于：電路的邊界掃描測試和可編程芯片的在線系統編程。

1990年JTAG正式由IEEE的1149.1-1990號文檔標準化，在1994年，加入了補充文檔對邊界掃描描述語言（BSDL）進行了說明。從那時開始，這個標準被全球的電子企業廣泛采用。邊界掃描幾乎成為了JTAG的同義詞。

　　在設計印刷電路版時, 目前最主要用在測試集成電路的副區塊，而且也提供一個在嵌入式系統很有用的除錯機制，提供一個在系統中方便的"后門"。當使用一些除錯工具像電路內模擬器用JTAG當做訊號傳輸的機制，使得程式設計師可以經由JTAG去讀取整合在CPU上的除錯模組。除錯模組可以讓程式設計師除錯嵌入式系統中的軟件 。

　　邊掃描測試是在20世紀80年代中期做為解決PCB物理訪問問題的JTAG接口發展起來的，這樣的問題是新的封裝技術導致電路板裝配日益擁擠所產生的。邊界掃描在芯片級層次上嵌入測試電路，以形成全面的電路板級測試協議。利用邊界掃描－－自1990年以來的行業標準IEEE 1149.1－－您甚至能夠對最復雜的裝配進行測試、調試和在系統設備編程，并且診斷出硬件問題。

通過提供對掃描鏈的IO的訪問，可以消除或極大地減少對電路板上物理測試點的需要，這就會顯著節約成本，因為電路板布局更簡單、測試夾具更廉價、電路中的測試系統耗時更少、標準接口的使用增加、上市時間更快。除了可以進行電路板測試之外，邊界掃描允許在PCB貼片之后，在電路板上對幾乎所有類型的CPLD和閃存進行編程，無論尺寸或封裝類型如何。在系統編程可通過降低設備處理、簡化庫存管理和在電路板生產線上集成編程步驟來節約成本并提高產量。

IEEE 1149.1 標準規定了一個四線串行接口（第五條線是可選的），該接口稱作測試訪問端口（TAP），用于訪問復雜的集成電路（IC），例如微處理器、DSP、ASIC和CPLD。除了TAP之外，混合IC也包含移位寄存器和狀態機，以執行邊界掃描功能。在TDI（測試數據輸入）引線上輸入到芯片中的數據存儲在指令寄存器中或一個數據寄存器中。串行數據從TDO（測試數據輸出）引線上離開芯片。邊界掃描邏輯由TCK（測試時鐘）上的信號計時，而且TMS（測試模式選擇）信號驅動TAP控制器的狀態。TRST（測試重置）是可選項。在PCB上可串行互連多個可兼容掃描功能的IC，形成一個或多個掃描鏈，每一個鏈都由其自己的TAP。每一個掃描鏈提供電氣訪問，從串行TAP接口到作為鏈的一部分的每一個IC上的每一個引線。在正常的操作過程中，IC執行其預定功能，就好像邊界掃描電路不存在。但是，當為了進行測試或在系統編程而激活設備的掃描邏輯時，數據可以傳送到IC中，并且使用串行接口從IC中讀取出來。這樣數據可以用來激活設備核心，將信號從設備引線發送到PCB上，讀出PCB的輸入引線并讀出設備輸出。